红外观察测量显微镜DZ2-IR
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红外观察测量显微镜DZ2-IR

型号：DZ2-IR

品牌：UNIOn

品名：红外观察测量显微镜

DZ2-IR是一款接收红外波长的变焦视频显微镜，具有较高的分辨率和放大倍率，可以观察样品内部缺陷和结构，在半导体封装中应该广泛，如BGA，CSP和COF等…

它具有以下特点：

1.650μm~1200nm波长光学系统从可见光到近红外范围。

2.无极变倍放大倍率（1.5x~15x）或（5x~50x）。不需要更换物镜，同时具有较高的工作记录。

3.配置Uni-Measure测量软件，进行大尺寸移动测量或微观小尺寸测量。

4.配备表面和透射红外光照明，能很好的应用于半导体各种封装内部结构的观察。

设备简介：

一、光源选择

搭配表面和透射光源可观察芯片内部结构：

二、镜头参数

三、工作距离

可方便的对样品进行操作，具有较长的工作距离
低倍物镜（1.5X - 15X）：W.D 46.2毫米

倍率物镜（5X – 50X）：W.D 14毫米

五、主要应用

搭配GaAs红外CCD观察晶圆及芯片内部缺陷

观察BGA封装焊球的位置

Wafer正面反面结构位置偏移

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